西門子推出 Tessent In-System Test，在硅片全生命周期內(nèi)實現(xiàn)先進(jìn)的確定性測試
西門子數(shù)字化工業(yè)軟件日前推出 Tessent In-System Test 軟件，作為一款突破性的可測試性設(shè)計 (DFT) 解決方案，旨在增強(qiáng)下一代集成電路 (IC) 的系統(tǒng)內(nèi)測試能力。 Tessent In-System Test 專為解...
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