
合見工軟發(fā)布測試向量自動生成工具,大幅加速集成電路測試
10月12日,上海合見工業(yè)軟件集團有限公司宣布推出擁有自主知識產權的商用級、高效測試向量自動生成工具UniVista Tespert ATPG,幫助工程師在進行大規(guī)模SoC集成電路設計中實現(xiàn)可測性設計(DFT),以降低測試成本,提升芯片質量...
10月12日,上海合見工業(yè)軟件集團有限公司宣布推出擁有自主知識產權的商用級、高效測試向量自動生成工具UniVista Tespert ATPG,幫助工程師在進行大規(guī)模SoC集成電路設計中實現(xiàn)可測性設計(DFT),以降低測試成本,提升芯片質量...